M. Piat, Atik, Y., Bélier, B., Benoit, A., Bergé, L., Bounab, A., Bréelle, E., Camus, P., Collin, S., Désert, F. X., Dumoulin, L., Evesque, C., Geoffray, H., Giard, M., Hoffmann, C., Jin, Y., Klisnick, G., Marnieros, S., Monfardini, A., Pajot, F., Prele, D., Redon, M., Santos, D., Stanescu, D., Sou, G., et Voisin, F.,
Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE) Conference Series, vol. 7020. p. 13, 2008.
