E. Antonucci, Fineschi, S., Naletto, G., Romoli, M., Spadaro, D., Nicolini, G., Nicolosi, P., Abbo, L., Andretta, V., Bemporad, A., Auchère, F., Berlicki, A., Bruno, R., Capobianco, G., Ciaravella, A., Crescenzio, G., Da Deppo, V., D'Amicis, R., Focardi, M., Frassetto, F., Heinzel, P., Lamy, P. L., Landini, F., Massone, G., Malvezzi, M. A., J. Moses, D., Pancrazzi, M., Pelizzo, M. - G., Poletto, L., Schühle, U. H., Solanki, S. K., Telloni, D., Teriaca, L., et Uslenghi, M.,
Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE) Conference Series, vol. 8443. p. 09, 2012.