K. T. Crowley, Simon, S. M., Silva-Feaver, M., Goeckner-Wald, N., Ali, A., Austermann, J., Brown, M. L., Chinone, Y., Cukierman, A., Dober, B., Duff, S. M., Dunkley, J., Errard, J., Fabbian, G., Gallardo, P. A., Ho, S. - P. P., Hubmayr, J., Keating, B., Kusaka, A., McCallum, N., McMahon, J., Nati, F., Niemack, M. D., Puglisi, G., M. Rao, S., Reichardt, C. L., Salatino, M., Siritanasak, P., Staggs, S., Suzuki, A., Teply, G., Thomas, D. B., Ullom, J. N., Vergès, C., Vissers, M. R., Westbrook, B., Wollack, E. J., Xu, Z., et Zhu, N.,
Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE) Conference Series, vol. 10708. p. 107083Z, 2018.