P. A. Gallardo, Gudmundsson, J., Koopman, B. J., Matsuda, F. T., Simon, S. M., Ali, A., Bryan, S., Chinone, Y., Coppi, G., Cothard, N., Devlin, M. J., Dicker, S., Fabbian, G., Galitzki, N., Hill, C. A., Keating, B., Kusaka, A., Lashner, J., Lee, A. T., Limon, M., Mauskopf, P. D., McMahon, J., Nati, F., Niemack, M. D., Orlowski-Scherer, J. L., Parshley, S. C., Puglisi, G., Reichardt, C. L., Salatino, M., Staggs, S., Suzuki, A., Vavagiakis, E. M., Wollack, E. J., Xu, Z., et Zhu, N.,
Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE) Conference Series, vol. 10708. p. 107083Y, 2018.
